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日本理学波长X射线荧光光谱仪对岩石样品的定点分析及面扫描分析

2020年04月13日10:40 天游ty8检测中心

广州天游ty8检测中心公司专业销售日本理学波谱,波谱不限于材料的形状,应用多领域金属元素的测定分析。本文章简单介绍日本理学ZSXPrimusⅣ波长X射线荧光光谱仪对岩石样品的定点分析及面扫描分析,为矿石领域对岩石测定分析提供宝贵经验。


使用仪器分析室内置的相机将岩石样品中需要关注的测量范围放大后进行了分析。


红框内扩大了的范围由右图表示。


可以更精密地指定测量位置。


面扫3描分析结果

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