X荧光光谱中的分析误区

X荧光光谱仪由于具有分析快速、制样简单，准确度高、对环境无污染等优点，现已广泛应用于各个领域，成为理化检验不可或缺的设备。X荧光光谱分析的发展历史较长，是随科技的全面进步，进行了无数次的革命性的改进，其硬件及软件由初的单纯定性发展直至今天的精确的定量分析。

正是由于这些时代的烙印，才使得人们习惯了引用学习，照搬一些现成的成果，才忽略了仪器发展的新技术及新水平，使得有些人在X射线荧光光谱分析工作中，存在一些认识上的误区，对我们的仪器使用及仪器效能的发挥起到了负面的作用，有些还对仪器的使用寿命产生了影响。

由于X射线荧光的能量比较大，样品被激发后，产生的特征X射线极易被吸收，而从样品中发射出来的荧光很少，也即是荧光产额很少。因此采用X荧光光谱仪测量微量元素，不是特长，因此不要把精力过分地放在低含量元素分析上。

同理，对于轻元素，如硼、碳、氮、氧等，也不要指望有多好的检出限；但对于高含量的轻元素分析，却有很高的精度。

本人曾分析生铁中3%左右的碳，标准偏差不超过0.1%；分析钼铁中60%左右的钼，误差不超过0.2%；分析硅石中90%左右的二氧化硅的含量，误差不超过0.3%等。而对微量元素，镁的检量限，低于0.01%，峰几乎没有了；钠，低于0.05%，峰也没了，连强度都没了还怎么测？由此说明X荧光光谱仪适合于高含量分析，而不适合微量元素的分析。

经常有些调研、参观的应用人员问我：你用X荧光光谱仪分析什么样品？

我对他说，你应该问我什么不能用荧光分析。什么意思？就是几乎任何样品都可以用荧光分析，但不是全部元素。

例如:铁矿石,你没必要分析其中的氟、硼等，测也测不准，又如锰铁合金，压片测锰元素测不准，你可以测其它元素如硅、锰、磷等还是很准的。又如萤石，你可能氟测不准，但你可以测量元素其它元素。

当然以上都要进行强度校正，如果系数过大，也可以采用参考浓度校正。