波长色散X射线荧光光谱仪对涂层中元素的定点分析示例

在波长色散X射线荧光光谱仪在金属元素的测定分析已经是应用非常的成熟具有典型的用户及实验配套方案。其中，在涂层方面的检测也有很好的应用，如涂料纸上的涂料中有线状异物，用CCD定点分析可以不破坏样品得知其组成成分。CCD定点分析是利用仪器的内置CCD相机和样品台驱动装置，指定样品表面任意位置，进行定性或定量分析，这是X射线荧光光谱仪ZSX系列新添加的功能。另外，在此介绍如何使用样品台驱动装置对检测出的组成成分进行元素分布分析。操作部分一、分析仪器日本理学      波长色散型X射线荧光光谱

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波长X射线荧光光谱仪——溶结凝灰岩半定量分析

天游ty8检测中心（原广州市天游ty8检测中心科学仪器有限公司）创立于2005年，十三年来坚持服务于国内实验分析领域，专注于各类仪器的研究制造与营销服务，是一家专门为客户打造一站式、全链条和“交钥匙”实验室而组建的高新技术企业。在日本理学波长色散X荧光光谱仪有专业的销售经验及技术团队，而且在各行业领域应用非常的广泛，其中对矿石、岩石测定分析也非常的成熟。溶结凝灰岩由熔岩凝固而成，分为玻璃状的微区镜面部分和火山灰等基质部分。镜面部分是显示岩浆本质的物质，通过对其组成的分析，可以获得重要的信息。

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ZSX Primus波长X射线荧光光谱仪对片状切削的钢种的判别

广州天游ty8检测中心公司专业代理日本理学波长X射线荧光光谱仪，在近年来，在X射线荧光分析的样品置备方面，对微小及微量样品的要求日趋严格。针对用传统仪器不能解决的样品制备及测试等问题，通过对仪器的高灵敏度化和新方法的开发，不仅解决了以上问题，而且应用范围越来越广泛。下面分享如何应用ZSX Primus系列波长X射线荧光光谱仪能够以CCD相机拍摄样品表面后得到的图象为基础，指定任意测试位置进行定性分析的仪器，通过对一片片状切削屑进行定性分析及半定量值分析的结果，判别其钢种。操作部分一、仪器波长色散X射线荧光光谱仪（ZSX Prim

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波长色散X射线荧光光谱仪对花岗岩分析

广州天游ty8检测中心X射线荧光光谱仪对矿石领域的金属元素分析有着丰富的经验及完整的配套方案，下面分享通过日本理学波长色散X射线荧光光谱仪对花岗岩的元素分析。俗称御影石的花岗岩属于酸性深成岩，是由石英，斜长石，云母，角闪石等构成的矿物质。在此介绍如何使用ZSX新功能---CCD相机和样品台驱动装置组合，对花岗岩进行CCD元素分布分析。CCD元素分布分析是利用仪器内置的CCD相机对直接观察样品表面，指定任意位置进行的元素分析。实验操作部分一、仪器ZSX系列波长色散X射线荧光光谱仪（日本理学）二、样品制备将样品按样品架大小切割，打磨

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日本理学上照式X射线荧光光谱仪对风化堆积岩的分析方法

矿石开采及矿石判定需要的精准的进行分析测定广州天游ty8检测中心代理的日本理学X射线荧光光谱仪可以轻松解决，下面通过实际案例分享测定方法，为矿产行业提供宝贵经验。为对局部变色堆积岩的变色原因进行无损检查，使用X射线荧光分析仪作CCD定点分析及元素分布分析。CCD定点分析和元素分布分析是根据仪器内置的CCD相机和样品台驱动装置的组合，指定任意位置进行测试的方法。就此分析而言，这是一种非常有效的测试方法。这次以分析面积为0.5mm?的小分析直径进行元素分布分析。即使是小直径分析，也可得到很高的精度，在短时间内得到满意的结果。实验操作

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日本理学波长X射线荧光光谱仪对岩石样品的定点分析及面扫描分析

广州天游ty8检测中心公司专业销售日本理学波谱，波谱不限于材料的形状，应用多领域金属元素的测定分析。本文章简单介绍日本理学ZSXPrimusⅣ波长X射线荧光光谱仪对岩石样品的定点分析及面扫描分析，为矿石领域对岩石测定分析提供宝贵经验。使用仪器分析室内置的相机将岩石样品中需要关注的测量范围放大后进行了分析。红框内扩大了的范围由右图表示。可以更精密地指定测量位置。面扫3描分析结果微区测绘测绘数据的测绘视图统合为以摄像图和数据(图、测量数据)来表示。图示种类有不同模式，可以采用有效的图示。各测量点的Mg-Kα的谱线比较SQX方法做的定

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精密仪器之X射线荧光光谱仪

简介：X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。使用型态：XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，

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日本理学波长色散X射线荧光光谱仪无法开启X射线的解决方法

广州天游ty8检测中心专业代理日本理学波长色散型X射线荧光光谱仪，本次文章主要分享理学中其中一款X射线荧光光谱仪在开启X射线管时出现下述故障现象?故障现象:无法开启X射线?错误级别:失败发生部件:XG发生器错误原因:与XG发生器通讯控制出错错误代码:11错误及产生原因:X射线发生器没有初始化,所以不能够控制XG?维护信息:关闭ZSX软件,并重新启动初始化。解决办法1、按照仪器给出的维护信息,关闭ZSX应用软件,关掉主机,过5分钟后,重新开启X荧光仪,ZSX应用软件正常运行,X荧光仪主机正常初始化,仪器状态正常?开启X-ray时,

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ZSXPrimusII波长色散X射线荧光光谱仪特点介绍

广州天游ty8检测中心公司专业代理日本理学波长色散X射线荧光光谱仪?，在理学光谱上得到广泛用户的好评与支持，日本理学波长色散光谱仪应用非常的广泛：电子和磁性材料、化学工业、陶瓷及水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境保护。同时检测材料状态也比较比样性：粉末样品、块状样品、液体样品。

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理学ZSX PrimusⅡ波长色散X射线荧光光谱仪对矿石测定方法

日本理学ZSX PrimusⅡ型X射线荧光光谱分析仪，该仪器为上照式端窗型单道扫描仪，配备LiF200、PeT、Ge、RX25、RX45共五块晶体，性能优越，高精密度以及低检出限，可测试从N~U的的所有元素的定量分析和半定量分析。

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什么是波长色散x射线荧光光谱仪？

波长色散x射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。它的优点是不破坏样品，分析速度快，适用于测定原子序数4以上的所有化学元素，分析精度高，样品制备简单。X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。色散型又分为波长色散型和能量色散型。波长色散型XRF光谱仪由X射线管激发源，分

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日本理学波长色散X射线荧光光谱仪对项目检定操作实例

多数操作人员对日本理学波长色散X射线荧光光谱仪检定规程可能不大清楚或者并没有具体的操作，天游ty8检测中心公司分享采用日本理学波长色散X射线荧光光谱仪对项目检定方法操作实例，方便广大用户进行学习，本方法来源于网络数据供参考用，不做商业用。检定项目操作实例以日本理学X射线荧光光谱仪为例，以表1为技术指标，进行分析测试。1、精密度测试精密度以12次连续重复测量的相对标准偏差RSD表示。每次测量都必须改变机械设置条件，包括晶体、计数器、准直器、2θ角度、滤波片、衰减器和样品转台位置等。上式中：s——n次测量的标

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波长色散X射线荧光光谱仪环境条件与技术指标（分享版）

根据JJG810-1993中华人民共和国国家计量检定规程《波长色散X射线荧光光谱仪》，对仪器进行检定/校准，在确保各项指标合格的前提下，仪器方可投入使用。本文对检定中涉及的指标进行具体实验分析统计，给出详细的统计结果。并对检定的项目进行了探讨，为下一步检定规程的修订提供了建议。波长色散X射线荧光光谱仪检定规程1993年的版本一直沿用至今天，但是X射线荧光光谱仪已经进行了飞速的发展，如今的波长色散X射线荧光光谱仪器已经发展到了波谱、能谱和微区扫描三者相结合的大型仪器，具备了更优异的检测性能和新增了扫描性能，并且随着国

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一分钟掌握波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的原理结构

多数人到现在还不清楚如何的区分波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的之间的区别到底有哪一些不一样的，本文中使用表格的形式简单的介绍两者之间的原理结构，一分钟快速掌握其中的奥秘。项目波长色散型能量色散型原理X荧光经晶体分光，在不同行射角测量不同元素的特征线X荧光直接进入检测器，经电子学系统处理得到不同元素(不同能量)的X荧光能谱结构为满足全波段需要，配置多块晶体，根据单道扫描和多道同时测定的需要，设置扫描机构和若干固定通道无扫描机构，只用一个检测器和多道脉冲分析器，结构简单得多，无转动件，可靠性高X-光管高功

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波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪两款产品的区别

日本理学波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪两款产品各有独自的优势，针对不同类的样品检测各有着长处之处，波长色散型X荧光光谱仪在分析上有着很高的精确度和精密度，能量色散型多数用去牌号的快速检测和筛选。下面从这两款光谱仪的原理与功能介绍它们之间的存的区别有哪些。

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ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪探测器故障问题

ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪在使用过程上假如出现了PC探测器的PHA调节不能正常进行怎么处理，广州市天游ty8检测中心科学仪器有限公司工程师教你一招，自己也可以进行故障排除。故障现象：进行PHA日常调节时，PC探测器微分曲线谱峰太低，严重变形，无法计算分辨率、“错误内容”提示“因为脉高微分曲线的谱峰太低，所以不能进行PHA调节”，“维护信息”显示：“可能使用了错误的PHA调节样品，或者PHA调节的条件设置错误”。

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ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪中X光管故障解决问题

ZSX Primus Ⅱ 波长色散型X射线荧光光谱仪在检测过程中由于不正确的使用或者没有定期的进行维护保养，容易造成机器的故障，下面跟大家分享ZSX Primus系列中二代波长色散型X射线荧光光谱仪在分析中出现X光管故障的现象、产生的原因与最终解决的二种方法。第一故障现象：正常使用过程中，X光管忽然关闭。“错误内容”提示“X射线发生器发生异常”，“维护信息”显示：“探测到X射线发生器有异常情况”。原因分析：X射线发生器本

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ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪解决初始化无法进行两种方法

进口ZSX Primus Ⅱ色散型X射线荧光光谱仪是日本理学推出的波长荧光光谱仪，性能先进，操作方便，已 广泛应用于地质、钢铁、冶炼、医药等多领域。但在实际使用过程中有时会出现这样那样的故障，影响正 常测试工作的及时性和测试结果的准确性，文章针对ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪的初始化无法进行的两个常见的故障现象进行介绍，介绍故障出现的问题、原因分析及解决方法，希望对大家有所帮助。初始化无法进行故障一故障现象：安装新光管后主机与计算机不能连接，也没有错误信息提示。原因分析：错误现象表明计算机系统探

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Supermini200 波长色散型台式X射线荧光光谱仪检测范围

理学多年的积累研制的Supermini200 小型波长色散型仪器， 由高性能的硬件和最新软件的完美结合，使得台式机具有高精度、高稳定的机能。Supermini200 波长色散型台式X射线荧光光谱仪检测性能非常的高，同一个画面上的分析、测量、结果确认操作简单。Supermini200还配置了高功率200W的Pd靶陶瓷管，能够进行高灵敏度的分析。Supermini200波长色散型X射线荧光光谱仪能快速解决各行业元素分析检测问题，大大提高工作效率。下面简单介绍其中部分分析应用：部分应用1、含有稀土类重元素等氧化物的定性分

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波长色散型XRF-ZSX Primus系列X射线荧光光谱仪应用

随着用户的需要也变得先进和多样化，理学集团长年以来的技术研发、工艺技巧、分析方法之精髓汇集于一体，不断满足用户不断改变的需求，理学集团研发了先进的XRF-ZSX Primus系列在各大行业中被广泛的应用。其中XRF-ZSX Primus/III+/IV 波长色散型X射线荧光光谱仪在技术上更加的先进，下面为大家简单介绍波长色散型X射线荧光光谱仪在部分领域中的应用。部分应用1、铁矿石分析 ASTM C114粉状硅酸盐水泥分析2、熔片法岩石分析3、FeCoNi合金元素分析4、低合金钢、不锈钢中Si,Mn,P,S,Ni,C

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